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본 발명은 고장점 탐지 장치 및 고장점 탐지 방법에 관한 것으로, 펄스 신호를 인가하는 펄스 발생부, 케이블로 인가된 펄스 신호 또는 펄스 신호가 반사되어 되돌아온 반사파 신호를 포함하는 제1 신호를 측정하는 파형 측정부, 제1 신호를 제n 단계의 웨이블렛 변환하여 각 단계별 근사 신호를 추출하고, 각 단계별 근사 신호의 곱으로 제2 신호를 추출하는 신호 추출부 및 고장점 검출부를 포함할 수 있다.
